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Pattern recognition and the detection of corporate failure
1979
Signatur: QBX1089

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Pattern recognition and the detection of corporate failure
Ort / Verlag
Ann Arbor, Mich. : Univ. Microfilms Internat.
Erscheinungsjahr
1979
Beschreibungen/Notizen
  • New York, N.Y., New York Univ., Diss., 1976
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067337170, 1067337170
Titel-ID: 990000180320106463
Format
VI, 169 S. [2 Microfiches]
Systemstelle
QBX

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