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Characterization of epitaxial semiconductor films
Methods and phenomena : 2 (Alle Bände)
1976
Signatur: XWQ1225

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characterization of epitaxial semiconductor films
Ist Teil von
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : Elsevier
Erscheinungsjahr
1976
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 044441438X
OCLC-Nummer: 636010659, 636010659
Titel-ID: 990002020520106463
Format
XII, 216 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIY, XWQ
Schlagworte
Halbleiterschicht, Epitaxie

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