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Particle characterization in technology : ed. John Keith Beddow
Uniscience series on fine particle science and technology
1984-
Signatur: UTR1334-...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Particle characterization in technology : ed. John Keith Beddow
Ist Teil von
  • Uniscience series on fine particle science and technology
Ort / Verlag
Boca Raton, FLA. : CRC Pr.
Erscheinungsjahr
1984-
Bände
Beschreibungen/Notizen
  • Erschienen: Vol. 1 - 2
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0849357845, 0849357853
OCLC-Nummer: 1069531641, 1069531641
Titel-ID: 990003241860106463
Format
–
Systemstelle
UTR
Schlagworte
Teilchenmesstechnik

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