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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Particle characterization in technology : ed. John Keith Beddow. 2. Morphological analysis
Ist Teil von
Auflage
3. print
Ort / Verlag
Boca Raton, FLA. : CRC Pr.
Erscheinungsjahr
1986
Sprache
Englisch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1106815415, 1106815415
Titel-ID: 990003241870106463
Format
265 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UTR

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