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Particle characterization in technology : ed. John Keith Beddow. 1. Applications and microanalysis
Particle characterization in technology (Alle Bände)
3. print, 1986
Signatur: UTR1334-1

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Particle characterization in technology : ed. John Keith Beddow. 1. Applications and microanalysis
Ist Teil von
Auflage
3. print
Ort / Verlag
Boca Raton, FLA. : CRC Pr.
Erscheinungsjahr
1986
Sprache
Englisch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1106597430, 1106597430
Titel-ID: 990003241880106463
Format
246 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UTR

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