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Instabilities in silicon devices
Signatur: UIU3078-...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Instabilities in silicon devices
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : North-Holland
Bände
Beschreibungen/Notizen
  • Vol. 3 im Verl. Elsevier [u.a.], Amsterdam [u.a.], erschienen
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 044470017X
OCLC-Nummer: 1046231425, 1046231425
Titel-ID: 990003398690106463
Format
–
Systemstelle
YEM, UIU
Schlagworte
Silicium, Passivierung

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