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Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods, held Aug.29-Sept.10, 1979, at Durham Univ., Durham United Kingdom
NATO ADVANCED STUDY INSTITUTES SERIES : B : 63 (Alle Bände)
1980
Signatur: UAL790400

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods, held Aug.29-Sept.10, 1979, at Durham Univ., Durham United Kingdom
Ist Teil von
Ort / Verlag
New York : Plenum Pr.
Erscheinungsjahr
1980
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0306406284
OCLC-Nummer: 1067499488, 1067499488
Titel-ID: 990003590610106463
Format
589 S.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Gitterbaufehler, Kristallwachstum, Röntgenographie

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