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Developments in integrated circuit testing
Perspectives in computing : 18 (Alle Bände)
1987
Signatur: YCM1375

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Developments in integrated circuit testing
Ist Teil von
Ort / Verlag
London [u.a.] : Academic Pr.
Erscheinungsjahr
1987
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0124967353
OCLC-Nummer: 635803918, 635803918
Titel-ID: 990004662360106463
Format
X, 440 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YCM
Schlagworte
Integrierte Schaltung, Prüftechnik

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