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Tutorial: test generation for VLSI chips
1988
Signatur: MQ1252

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Tutorial: test generation for VLSI chips
Ort / Verlag
Washington, DC : Computer Soc. Pr.
Erscheinungsjahr
1988
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 081868786X, 0818647868
OCLC-Nummer: 635855194, 635855194
Titel-ID: 990004839810106463
Format
X, 401 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YGQ, YCM
Schlagworte
VLSI, Testen, Test

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