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Microelectronic reliability. 1. Reliability, test, and diagnostics
Microelectronic reliability (Alle Bände)
1. [Dr.], 1989
Signatur: YCM1406-1

Details

Titel
Microelectronic reliability. 1. Reliability, test, and diagnostics
Ist Teil von
Auflage
1. [Dr.]
Ort / Verlag
Norwood, Mass. : Artech House
Erscheinungsjahr
1989
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0890062846
OCLC-Nummer: 311345044, 311345044
Titel-ID: 990004974700106463
Format
XVIII, 374 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YCM

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