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Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente
Mikroelektronik
1989
Signatur: YEM1886

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente
Ist Teil von
  • Mikroelektronik
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1989
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Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3540508910, 0387508910
OCLC-Nummer: 722025299, 722025299
Titel-ID: 990005025840106463
Format
X, 196 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIH, YEM
Schlagworte
Halbleiterbauelement, Strahlenschaden

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