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Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen
Kortstock, Michael
1989
Signatur:
D1723
Details
Autor(en) / Beteiligte
Kortstock, Michael
Titel
Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
München, Univ. d. Bundeswehr, Diss., 1989
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 180466313, 180466313
Titel-ID: 990005033540106463
Format
123 S. : zahlr. graph. Darst.
Systemstelle
YGH
,
YCM
Schlagworte
Elektronisches Bauelement
,
NEMP
,
Messung
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