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Untersuchungen zum Ausheilen von Kristallschäden in Germanium und Silizium durch Bestrahlung mit Lichtblitzen im Mikrosekundenbereich
1989
Signatur: D1715

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Untersuchungen zum Ausheilen von Kristallschäden in Germanium und Silizium durch Bestrahlung mit Lichtblitzen im Mikrosekundenbereich
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
  • Zsfassung in dt. Sprache
  • Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 1988
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067731803, 1067731803
Titel-ID: 990005134550106463
Format
85, 3, [50] S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YGY, YEM
Schlagworte
Halbleiter, Rekristallisation, Blitzlampe

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