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Untersuchungen zum Ausheilen von Kristallschäden in Germanium und Silizium durch Bestrahlung mit Lichtblitzen im Mikrosekundenbereich
Beil, Falk
1989
Signatur:
D1715
Details
Autor(en) / Beteiligte
Beil, Falk
Titel
Untersuchungen zum Ausheilen von Kristallschäden in Germanium und Silizium durch Bestrahlung mit Lichtblitzen im Mikrosekundenbereich
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
Zsfassung in dt. Sprache
Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 1988
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067731803, 1067731803
Titel-ID: 990005134550106463
Format
85, 3, [50] S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YGY
,
YEM
Schlagworte
Halbleiter
,
Rekristallisation
,
Blitzlampe
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