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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Photoleitungsmessungen an Si:In, Si:Te und Lumineszenzmessungen an Hg1-xCdxTe im Infraroten unter Verwendung eines gekühlten Spektrometers
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
  • Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1989
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636195452, 636195452
Titel-ID: 990005250420106463
Format
151 S. : Ill., zahlr. graph. Darst.
Systemstelle
UKA, UHI

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