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Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung
Arbeiten zur angewandten Statistik : 33
(
Alle Bände
)
Rendtel, Ulrich
Lenz, Hans-Joachim
1990
Signatur:
TKM3942
Details
Autor(en) / Beteiligte
Rendtel, Ulrich
Lenz, Hans-Joachim
Titel
Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung
Ist Teil von
Arbeiten zur angewandten Statistik : 33
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Heidelberg : Physica-Verl.
Erscheinungsjahr
1990
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Inhaltsverzeichnis
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3790804681
OCLC-Nummer: 246599841, 246599841
Titel-ID: 990005356330106463
Format
IX, 231 S. : graph. Darst.
Systemstelle
QBG
,
TKM
Schlagworte
Statistische Qualitätskontrolle
,
Stichprobenplan
,
Bayes-Verfahren
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