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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Kapazitätsspektroskopie an Kupferdefekten in Silizium
Erscheinungsjahr
1990
Beschreibungen/Notizen
  • Stuttgart, Univ., Diss., 1990
Sprache
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067633819, 1067633819
Titel-ID: 990005571700106463
Format
135 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIO, UIU

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