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Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
Mikroelektronik : 7 (Alle Bände)
1990
Signatur: YFB2564

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
Ist Teil von
Ort / Verlag
Heidelberg : Hüthig
Erscheinungsjahr
1990
Beschreibungen/Notizen
  • Duisburg, Univ., Diss., 1990 u.d.T.: Fritz, Joachim: Untersuchung und Einsatz elektro-optischer Effekte zum Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3778519948
OCLC-Nummer: 722135589, 722135589
Titel-ID: 990005572670106463
Format
XVIII, 228 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YFB
Schlagworte
CMOS-Schaltung, Prüfung, Elektrooptischer Effekt, Laser-Rastermikroskop

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