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Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction ; X-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy
Eberhart, Jean P
1991
Signatur:
ZMG1328
Details
Autor(en) / Beteiligte
Eberhart, Jean P
Titel
Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction ; X-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy
Ort / Verlag
Chichester [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1991
Beschreibungen/Notizen
Aus d. Franz. übers.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0471929778
OCLC-Nummer: 636208790, 636208790
Titel-ID: 990005626420106463
Format
XXVII, 545 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
ZMG
Schlagworte
Festkörperspektroskopie
,
Werkstoffprüfung
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