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Eight Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : February 3 - 5, 1992, Four Seasons Hotel, Austin, TX, USA
1992
Signatur: XVI920077

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Eight Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : February 3 - 5, 1992, Four Seasons Hotel, Austin, TX, USA
Ort / Verlag
Piscatawy, NJ : IEEE Service Center
Erscheinungsjahr
1992
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0780305000, 0780305019
OCLC-Nummer: 636423122, 636423122
Titel-ID: 990005980960106463
Format
VIII, 136 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YEM, XVI

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