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Reliability physics 1993 : 31st annual proceedings ; Atlanta, Georgia, March 23, 24, 25, 1993
1993
Signatur: UAL930026

Details

Titel
Reliability physics 1993 : 31st annual proceedings ; Atlanta, Georgia, March 23, 24, 25, 1993
Ort / Verlag
New York : Inst. of Electr. and Electronics Engineers
Erscheinungsjahr
1993
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0780307828, 0780307836, 0780307844
OCLC-Nummer: 832484936, 832484936
Titel-ID: 990006259640106463
Format
X, 411 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
WBF, UAL
Schlagworte
VLSI, Produktion, Zuverlässigkeit

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