Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Zur Ergebnisliste
Ergebnis 22 von 29
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Characterization in silicon processing
Materials characterization series
1993
Signatur: XWQ1241

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characterization in silicon processing
Ist Teil von
  • Materials characterization series
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Butterworth-Heinemann [u.a.]
Erscheinungsjahr
1993
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0750691727
OCLC-Nummer: 635600153, 635600153
Titel-ID: 990006281210106463
Format
XIII, 240 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIU, XWQ
Schlagworte
Silicone

Lade weitere Informationen...