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BibTeX
Characterization in silicon processing
Materials characterization series
Strausser, Yale
[Herausgeber]
1993
Signatur:
XWQ1241
Details
Autor(en) / Beteiligte
Strausser, Yale
[Herausgeber]
Titel
Characterization in silicon processing
Ist Teil von
Materials characterization series
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Butterworth-Heinemann [u.a.]
Erscheinungsjahr
1993
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0750691727
OCLC-Nummer: 635600153, 635600153
Titel-ID: 990006281210106463
Format
XIII, 240 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIU
,
XWQ
Schlagworte
Silicone
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