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Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung
Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2795
(
Alle Bände
)
Karsten, Kuno
1993
Signatur:
MQ3877
Details
Autor(en) / Beteiligte
Karsten, Kuno
Titel
Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung
Ist Teil von
Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2795
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek
Erscheinungsjahr
1993
Beschreibungen/Notizen
Zsfassung in engl. Sprache
Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636921550, 636921550
Titel-ID: 990006306520106463
Format
92 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIU
,
UIO
Schlagworte
Halbleiter
,
Elektronenbestrahlung
,
Störstelle
,
Röntgenstreuung
,
Diffuse Streuung
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