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Electron beam testing technology
Microdevices
1993
Signatur: UFF1621

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electron beam testing technology
Ist Teil von
  • Microdevices
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Plenum Pr.
Erscheinungsjahr
1993
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0306443600
OCLC-Nummer: 636780299, 636780299
Titel-ID: 990006472400106463
Format
XVI, 462 S.
Systemstelle
ZME, UFF

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