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BibTeX
Principles of semiconductor network testing
Test & measurement world
Afshar, Amir
1995
Signatur:
YCL1134
Details
Autor(en) / Beteiligte
Afshar, Amir
Titel
Principles of semiconductor network testing
Ist Teil von
Test & measurement world
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Butterworth-Heinemann
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0750694726
OCLC-Nummer: 832666884, 832666884
Titel-ID: 990006780090106463
Format
XIV, 213 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YET
,
YCL
Schlagworte
Halbleiterschaltung
,
Prüfung
,
Integrierte Schaltung
,
Prüftechnik
,
Digitale Signalverarbeitung
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