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Principles of semiconductor network testing
Test & measurement world
1995
Signatur: YCL1134

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Principles of semiconductor network testing
Ist Teil von
  • Test & measurement world
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Butterworth-Heinemann
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0750694726
OCLC-Nummer: 832666884, 832666884
Titel-ID: 990006780090106463
Format
XIV, 213 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YET, YCL
Schlagworte
Halbleiterschaltung, Prüfung, Integrierte Schaltung, Prüftechnik, Digitale Signalverarbeitung

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