Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Zur Ergebnisliste
Ergebnis 11 von 24
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Electrical characterization of silicon-on-insulator materials and devices
The Kluwer international series in engineering and computer science : 305 (Alle Bände)
1995
Signatur: XWR1212

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electrical characterization of silicon-on-insulator materials and devices
Ist Teil von
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0792395484
OCLC-Nummer: 832602524, 832602524
Titel-ID: 990006824290106463
Format
XIV, 381 S. : graph. Darst.
Systemstelle
XWR
Schlagworte
SOI-Technik

Lade weitere Informationen...