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Testverfahren in der Mikroelektronik : Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen
Mikroelektronik
1997
Signatur: YFB2996

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Testverfahren in der Mikroelektronik : Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen
Ist Teil von
  • Mikroelektronik
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1997
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3540617280
OCLC-Nummer: 75826265, 75826265
Titel-ID: 990007161240106463
Format
XI, 219 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YEA, YFB
Schlagworte
Digitale integrierte Schaltung, Testbarkeit, Fehlererkennung, Selbsttest, Logische Schaltung, Testmuster, Algorithmus

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