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A new apparatus for the in-situ X-ray characterization of thin layers
[Mikrofiche-Ausg.], 1999
Signatur: UIO2242

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A new apparatus for the in-situ X-ray characterization of thin layers
Auflage
[Mikrofiche-Ausg.]
Erscheinungsjahr
1999
Beschreibungen/Notizen
  • Paderborn, Univ., Diss., 1999
  • Mikrofiche-Ausg.:
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3828807313
OCLC-Nummer: 1106723959, 1106723959
Titel-ID: 990008133640106463
Format
104 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIY, UIO

Angaben zur Sekundärform

Erscheinungsform
Mikrofiche-Ausg.:
Erscheinungsjahr
1999
Ort / Verlag
Marburg : Tectum-Verl.

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