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Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
Wissenschaftliche Berichte / Forschungszentrum Karlsruhe, Technik und Umwelt : 6503 (Alle Bände)
Als Ms. gedr, 2000
Signatur: UIO2276

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
Ist Teil von
Auflage
Als Ms. gedr
Ort / Verlag
Karlsruhe : Forschungszentrum
Erscheinungsjahr
2000
Beschreibungen/Notizen
  • Karlsruhe, Univ., Diss., 2000
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1071335375, 1071335375
Titel-ID: 990008303290106463
Format
VI, 150 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIO

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