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Random testing of digital circuits : theory and applications
1998
Signatur: YGQ4549

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Random testing of digital circuits : theory and applications
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Dekker
Erscheinungsjahr
1998
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0824701828
OCLC-Nummer: 245718880, 245718880
Titel-ID: 990009205560106463
Format
XIX, 475 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YGQ
Schlagworte
Digitale integrierte Schaltung, Automatisches Prüfen

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