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Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits
Frontiers in electronic testing : 17 (Alle Bände)
2000
Signatur: YCM1561

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits
Ist Teil von
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer Acad. Publ.
Erscheinungsjahr
2000
Beschreibungen/Notizen
  • Teilw. als Printed-on-Demand-Ausg. mit neueren Erscheinungsjahren
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0792379918
OCLC-Nummer: 890196362, 890196362
Titel-ID: 990009282140106463
Format
XVIII, 690 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YFB, YCM
Schlagworte
VLSI, Prüftechnik, Integrated circuit, Digital integrated circuit, Mixed signal circuit, Semiconductor storage device

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