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BibTeX
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits
Frontiers in electronic testing : 17
(
Alle Bände
)
Bushnell, Michael L
Agrawal, Vishwani D
2000
Signatur:
YCM1561
Details
Autor(en) / Beteiligte
Bushnell, Michael L
Agrawal, Vishwani D
Titel
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits
Ist Teil von
Frontiers in electronic testing : 17
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer Acad. Publ.
Erscheinungsjahr
2000
Beschreibungen/Notizen
Teilw. als Printed-on-Demand-Ausg. mit neueren Erscheinungsjahren
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0792379918
OCLC-Nummer: 890196362, 890196362
Titel-ID: 990009282140106463
Format
XVIII, 690 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YFB
,
YCM
Schlagworte
VLSI
,
Prüftechnik
,
Integrated circuit
,
Digital integrated circuit
,
Mixed signal circuit
,
Semiconductor storage device
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