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Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : 28 - 29 July 2003, San Jose, California
International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
Wik, Tom
[Herausgeber]
2003
Signatur:
XVI030212
Details
Autor(en) / Beteiligte
International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
Wik, Tom
[Herausgeber]
Titel
Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : 28 - 29 July 2003, San Jose, California
Ort / Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Erscheinungsjahr
2003
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Inhaltsverzeichnis
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0769520049
OCLC-Nummer: 248832783, 248832783
Titel-ID: 990009509590106463
Format
IX, 95 S.
Systemstelle
YGN
,
YGQ
,
XVI
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