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Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
Springer series in surface sciences : 48 (Alle Bände)
2012
Signatur: UQT1219

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
Ist Teil von
Ort / Verlag
Heidelberg [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
2012
Link zu anderen Inhalten
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9783642225659
DOI: DOI 10.1007/978-3-642-22566-6
OCLC-Nummer: 844902749, 844902749
Titel-ID: 990018287580106463
Format
XIV, 331 S. : zahlr. Ill. und graph. Darst.
Systemstelle
UQT
Schlagworte
Kelvin-Sonde, Rasterkraftmikroskopie

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