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Details

Titel
Secondary ion mass spectrometry : SIMS ; proceedings of the ... International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 2. Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) : Standford Univ., Standford, Calif., USA, Aug. 27-31, 1979 / ed.: A. Benninghoven
Ist Teil von
Ort / Verlag
Chichester : Wiley, Berlin : Springer
Erscheinungsjahr
1979
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 3540098437, 0387098437
Titel-ID: 990024947870106463
Format
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Sekundärionen-Massenspektrometrie

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