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Details

Titel
Secondary ion mass spectrometry : SIMS ; proceedings of the ... International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 3. Proceedings of the third international conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981
Ist Teil von
Ort / Verlag
Chichester : Wiley, Berlin : Springer
Erscheinungsjahr
1982
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 354011372X, 038711372X
Titel-ID: 990024947880106463
Format
XI, 444 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Sekundärionen-Massenspektrometrie

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