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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen, Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie : 3049
1981

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Ist Teil von
  • Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen, Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie : 3049
Ort / Verlag
Wiesbaden : VS Verlag für Sozialwissenschaften
Erscheinungsjahr
1981
Link zum Volltext
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 9783322875280
DOI: 10.1007/978-3-322-87528-0
Titel-ID: 990367867370206441
Format
1 Online-Ressource (23 S. 37 Abb)
Schlagworte
Science