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Hochfrequenzmesstechnik. 1. Grundlagen, Verfahren, Geräte, Hilfsmittel / Albrecht Hock
Hochfrequenzmesstechnik (Alle Bände), Kontakt & Studium : 31,A (Alle Bände)
1981
Signatur: YCM1236(2)-1
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Integrierter Test anwendungsspezifischer Schaltkreise
Anwendungen der Datenverarbeitung
1989
Signatur: YCM1430
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Automatische Testgenerierung für kombinatorische Schaltungen
1991
Signatur: D5745
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Hochfrequenzmesstechnik. 2. Grundlagen, Verfahren, Geräte, Hilfsmittel / Autoren : Albrecht Hock
Hochfrequenzmesstechnik (Alle Bände), Kontakt & Studium : 31,B (Alle Bände)
1980
Signatur: YCM1236-2
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Microelectronic reliability. 2. Integrity assessment and assurance
Microelectronic reliability (Alle Bände)
1. [Dr.], 1989
Signatur: YCM1406-2
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Microelectronic reliability. 1. Reliability, test, and diagnostics
Microelectronic reliability (Alle Bände)
1. [Dr.], 1989
Signatur: YCM1406-1
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Zur Modellierung digitaler Schaltungen mit AND-OR-Graphen für die automatische Testmustergenerierung
1989
Signatur: D5503
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Developments in integrated circuit testing
Perspectives in computing : 18 (Alle Bände)
1987
Signatur: YCM1375
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Betriebsmessungen der Fernmeldetechnik. 2. Vermittlungstechnik : elektromechanische und elektronische Wählsysteme der Fernsprech-, Telegrafen- und Datentechnik
Betriebsmessungen der Fernmeldetechnik (Alle Bände)
1976
Signatur: YCM1121-2
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Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze
1988
Signatur: D1711
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Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors ; the Yokohama 21. Century Forum, Yokohama, Japan, September 17 - 22, 1989
Signatur: XVI890468-...
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Kurzfassungen zu den Vorträgen der Tagung "Qualität und Zuverlässigkeit von Systemen, Programmen und Geräten der Informationstechnik" : Tage der Wissenschaft und Technik an der Technischen Hochschule Wismar vom 05. bis 07. September 1989
Schriftenreihe der Technischen Hochschule Wismar : 2 (Alle Bände)
Als Ms. gedr, 1989
Signatur: WAI890392
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Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen
1989
Signatur: D1723
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Methoden zur Kalibrierung von heterodynen und homodynen Netzwerkanalysatoren
1990
Signatur: D2975
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Selbsttest monolithischer analog-digitaler Schaltungen
1989
Signatur: D4902
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Eine Entwicklungsumgebung zur Automatisierung von Verfahren zur Generierung von Testhilfen in digitalen integrierten Schaltungen
1990
Signatur: D2995
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Impedanzmessung im mm-Wellen-Bereich ohne Frequenzumsetzung
1989
Signatur: D5308
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Art des InhaltsSonstiges
Autor / AutorinSchmidt, Karl-Heinz
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