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Automatische Testgenerierung für kombinatorische Schaltungen

Kaibel, Reinhard

1991

Signatur: D5745

Hochfrequenzmesstechnik. 2. Grundlagen, Verfahren, Geräte, Hilfsmittel / Autoren : Albrecht Hock

Hochfrequenzmesstechnik (Alle Bände), Kontakt & Studium : 31,B (Alle Bände)

1980

Signatur: YCM1236-2

Microelectronic reliability. 2. Integrity assessment and assurance

Microelectronic reliability (Alle Bände)

1. [Dr.], 1989

Signatur: YCM1406-2

Hochfrequenzmesstechnik. 1. Grundlagen, Verfahren, Geräte, Hilfsmittel / Albrecht Hock

Hochfrequenzmesstechnik (Alle Bände), Kontakt & Studium : 31,A (Alle Bände)

1981

Signatur: YCM1236(2)-1

Nachrichtenübertragungsmesstechnik. 1. Leitungsmeßtechnik

Nachrichtenübertragungsmesstechnik (Alle Bände), Technik der Telekommunikation : 16 (Alle Bände)

1990

Signatur: YCM1456-1

Microelectronic reliability. 1. Reliability, test, and diagnostics

Microelectronic reliability (Alle Bände)

1. [Dr.], 1989

Signatur: YCM1406-1

Zur Modellierung digitaler Schaltungen mit AND-OR-Graphen für die automatische Testmustergenerierung

Trischler, Erwin

1989

Signatur: D5503

Developments in integrated circuit testing

Perspectives in computing : 18 (Alle Bände)

Miller, D M[Herausgeber]

1987

Signatur: YCM1375

Betriebsmessungen der Fernmeldetechnik. 2. Vermittlungstechnik : elektromechanische und elektronische Wählsysteme der Fernsprech-, Telegrafen- und Datentechnik

Betriebsmessungen der Fernmeldetechnik (Alle Bände)

Kaiser, Rudolf[Herausgeber]

1976

Signatur: YCM1121-2

Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze

Grützner, Matthias

1988

Signatur: D1711

Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors ; the Yokohama 21. Century Forum, Yokohama, Japan, September 17 - 22, 1989

Sumino, K[Herausgeber]

Signatur: XVI890468-...

Kurzfassungen zu den Vorträgen der Tagung "Qualität und Zuverlässigkeit von Systemen, Programmen und Geräten der Informationstechnik" : Tage der Wissenschaft und Technik an der Technischen Hochschule Wismar vom 05. bis 07. September 1989

Schriftenreihe der Technischen Hochschule Wismar : 2 (Alle Bände)

Schippel, Erhard[Herausgeber]

Als Ms. gedr, 1989

Signatur: WAI890392

Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen

Kortstock, Michael

1989

Signatur: D1723

Methoden zur Kalibrierung von heterodynen und homodynen Netzwerkanalysatoren

Eul, Hermann-Josef

1990

Signatur: D2975

Selbsttest monolithischer analog-digitaler Schaltungen

Ohletz, Michael J

1989

Signatur: D4902

Eine Entwicklungsumgebung zur Automatisierung von Verfahren zur Generierung von Testhilfen in digitalen integrierten Schaltungen

Frei, Matthias

1990

Signatur: D2995

Integrierter Test anwendungsspezifischer Schaltkreise

Anwendungen der Datenverarbeitung

Budde, Wolfgang O

1989

Signatur: YCM1430

Impedanzmessung im mm-Wellen-Bereich ohne Frequenzumsetzung

Neumeyer, Bernhard

1989

Signatur: D5308

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Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze

Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors ; the Yokohama 21. Century Forum, Yokohama, Japan, September 17 - 22, 1989

Kurzfassungen zu den Vorträgen der Tagung "Qualität und Zuverlässigkeit von Systemen, Programmen und Geräten der Informationstechnik" : Tage der Wissenschaft und Technik an der Technischen Hochschule Wismar vom 05. bis 07. September 1989

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