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Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications

Woodhead Publishing series in electronic and optical materials : 77 (Alle Bände)

2015

Signatur: UFF1841

Control technologies for emerging micro and nanoscale systems

Lecture notes in control and information sciences : 413 (Alle Bände)

Eleftheriou, Evangelos

2011

Signatur: UFF1825

In-situ electron microscopy at high resolution

Banhart, Florian[Herausgeber]

2008

Signatur: UFF1817

Handbook of nitride semiconductors and devices

Morkoç, Hadis

2008-

Signatur: YEM2256

Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop : ein Handbuch für die Praxis

Eggert, Frank

2005

Signatur: UFF1833

Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials

Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications

Capper, Peter[Herausgeber]

2005

Signatur: UIR2687

Organic electroluminescence

Optical engineering : 94 (Alle Bände)

Kafafi, Zakya H

2005

Signatur: UIQ5151

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen [Elektronische Ressource]

Röder, Thorsten

2004

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Volltext

Ultramikrotomie in der Materialforschung

2004

Signatur: UFF1809

Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen

Röder, Thorsten

2004

Signatur: P1778

Semiconductor nanocrystals : from basic principles to applications

Nanostructure science and technology

Ėfros, Aleksej L[Herausgeber]

2003

Signatur: UIU4537

Quantitative high resolution fluorescence microscopy using evanescent wave excitation

Oheim, Martin

1. Aufl, 1999

Signatur: UFF1794

Procedures in scanning probe microscopies

Colton, Richard J[Herausgeber]

Repr, 1999

Signatur: MQ11448

Optical methods of engineering analysis

Cloud, Gary L

1. paperback ed, 1998

Signatur: UGR1730

Scanning probe microscopy : analytical methods

Nanoscience and technology

Wiesendanger, Roland[Herausgeber]

1998

Signatur: UFF1786

Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop

Schulze, Dietrich

1998

Signatur: MQ11141, MQ11140

Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie

Jumpertz, Reiner

1997

Signatur: DQ2166

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)

Kliese, Rainer

1997

Signatur: D11270

Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie

Münster, Stefan

1997

Signatur: D11950

Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

1996

Signatur: UFF1760

Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation

Harnau, Arnold

1995

Signatur: D10805

Elektronenmikroskopie : Grundlagen, Methoden, Anwendungen

1995

Signatur: UFF1710

Untersuchung der Si-SiGe-Heteroepitaxie mit der Rastertunnelmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 3023 (Alle Bände)

Kampers, Stefan

1995

Signatur: MQ5582

Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie an Si(111)-Flächen

Wilhelmi, Guido

1995

Signatur: D10369

Zur Frühgeschichte des Elektronenmikroskops

Qing, Lin

1995

Signatur: UFF1736

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