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IEEE/SEMI International Semiconductor Manufacturing Science Symposium : July 19 - 20, 1993, San Francisco, CA, USA
1993
Signatur: XVI930983
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Introductory semiconductor electronics
1996
Signatur: YEM2117
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Optical characterization of semiconductors : infrared, raman, and photoluminescence spectroscopy
Techniques of physics : 14 (Alle Bände)
1993
Signatur: UIU3565
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Sensoren : mit 48 Tabellen und 14 Datenblättern
Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik : 3 (Alle Bände)
1992
Signatur: YEM1967-3
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Modern power devices
A Wiley-interscience publication
1. [Dr.], 1987
Signatur: YEM1713
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Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik
Signatur: YEM1967
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Elektronen in Metallen und Halbleitern : mit 8 Tabellen
1972
Signatur: UIR1039
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Ladungsträgertransport und Rekombination in a-SiGe:H
1990
Signatur: D5479
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Probleme der Festkörperelektronik. 6
Probleme der Festkörperelektronik (Alle Bände)
1974
Signatur: YEM1187-6
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Halbleiter-Optoelektronik : mit 12 Tabellen
Uni-Taschenbücher : 538 (Alle Bände)
1976
Signatur: YEM1519
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Bipolare Halbleiter
2., überarb. Aufl. des Buches "Halbleiter", 1979
Signatur: YEM1470(2)
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Halbleitertechnologie
Teubner-Studienskripten : 54 (Alle Bände)
1972
Signatur: YEM1242
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  • BibTeX
Sensoranwendungen : mit 37 Tabellen
Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik : 8 (Alle Bände)
1995
Signatur: YEM1967-8
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Dynamische und kinetische Eigenschaften eines quasi 2-dimensionalen Elektronengases
1990
Signatur: D5027
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Der Einfluß von Nachbarschaftseffekten auf das Latch-up-Verhalten von hochintegrierten CMOS-Schaltungen
1989
Signatur: D2987
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Probleme der Festkörperelektronik. 2
Probleme der Festkörperelektronik (Alle Bände)
1969
Signatur: YEM1187-2
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Skalierung statischer CMOS-Speicher mit Sub-My-m-Strukturgrößen
1991
Signatur: D4923
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Zweidimensionale Simulation der lokalen Oxidation von Silizium
1988
Signatur: D1752
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The electrical characterization of semiconductors
Techniques of physics : ...
1990-
Signatur: UIU3442
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Semiconductors for micro- and nanotechnology : an introduction for engineers
2002
Signatur: YEM2191
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Mikroelektronik : Leitfaden und Aufgaben
1988
Signatur: YEM1755
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Untersuchungen an MOS-Kapazitäten mit Silizidgate
1989
Signatur: D2981
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Probleme der Festkörperelektronik
1973-
Signatur: YEM1187
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Einführung in die Halbleitertechnologie
1993
Signatur: UIU3531
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Probleme der Festkörperelektronik. 8. Bandstruktur kristalliner Halbleiter, Sio-Schichten für Galoumarsenid, Sperrschichtkapazitäten, Ionenimplantation, Gunn-Effekt, Akustoelektronik
Probleme der Festkörperelektronik (Alle Bände)
1976
Signatur: YEM1187-8
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Autor / AutorinHirschmann, Walter
SchlagwortHalbleiterbauelement
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