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Dimensionierung von Halbleiterschaltungen : mit 50 Literaturstellen
4., wesentlich erw. Aufl, 1994
Signatur: YEM2167(4)
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Proceedings / IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, ASMC '93 : October 18 - 19, 1993, Boston, Massachusetts ; theme: Factory of the future
1993
Signatur: XVI930886
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Elektronik mit Halbleiterbauelementen : Grundlagen, Schaltungen, Experimente
2., unveränd. Aufl, 1974
Signatur: YEM1438(2)
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Electronic engineering semiconductors and devices
2. ed, 1990
Signatur: YEM1810(2)
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Sensoranwendungen : mit 37 Tabellen
Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik : 8 (Alle Bände)
1995
Signatur: YEM1967-8
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Semiconductor device modeling with SPICE
2. ed, 1993
Signatur: YEM1674(2)
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Nanoelectronics and information technology : advanced electronic materials and novel devices
2., corr. ed, 2005
Signatur: MQ16422, MQ21055, MQ19464
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Eight Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : February 3 - 5, 1992, Four Seasons Hotel, Austin, TX, USA
1992
Signatur: XVI920077
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Keramik : mit 63 Tabellen
Werkstoffe und Bauelemente der Elektrotechnik : 5 (Alle Bände)
1994
Signatur: YEM1967-5
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Halbleiter-Schaltungen : Einführung in die Theorie und Technik der Dioden, bipolaren Transistoren, Feldeffekt-Transistoren, Thyristoren und integrierten Schaltkreise ; mit 8 Tabellen
Elektronik in der Praxis
1974
Signatur: YEM1323
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CMOS - circuit design, layout, and simulation
IEEE Press series on microelectronic systems
2. ed, 2005
Signatur: YEP3192(2)
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Modern power devices
A Wiley-interscience publication
1. [Dr.], 1987
Signatur: YEM1713
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Instabilities in silicon devices
Signatur: UIU3078-...
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Untersuchungen zum Ausheilen von Kristallschäden in Germanium und Silizium durch Bestrahlung mit Lichtblitzen im Mikrosekundenbereich
1989
Signatur: D1715
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Halbleiter-Technologie : eine Einführung in die Prozeßtechnik von Silizium und III-V-Verbindungen ; mit 30 Tabellen
1991
Signatur: YGY1795
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Proceedings / IEEE Cornell Conference on Advanced Concepts in High Speed Semiconductor Devices and Circuits : August 2 - 4, 1993, Cornell University, Ithaca, New York
1993
Signatur: XVI930933
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Halbleiter-Optoelektronik : mit 12 Tabellen
Uni-Taschenbücher : 538 (Alle Bände)
1976
Signatur: YEM1519
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The electrical characterization of semiconductors
Techniques of physics : ...
1990-
Signatur: UIU3442
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An introduction to semiconductor microtechnology
Open University set book
2. ed, 1990
Signatur: YEM1836(2)
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Elektrotechnik, Elektronik Lehr- und Arbeitsbücher
Signatur: YEM1608
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Elektrotechnik, Elektronik Lehr- und Arbeitsbücher. 6. Grundlagen der Halbleitertechnik
Elektrotechnik, Elektronik Lehr- und Arbeitsbücher (Alle Bände)
1975
Signatur: YEM1608-6
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Bauelemente-Degradation durch radioaktive Strahlung und deren Konsequenzen für den Entwurf strahlenresistenter elektronischer Schaltungen
Schriftenreihe des Instituts für Elektronik, Ruhr-Universität Bochum : 901,5 (Alle Bände)
1990
Signatur: D2993
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Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente
Mikroelektronik
1989
Signatur: YEM1886
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Electromagnetic metamaterials : transmission line theory and microwave applications ; the engineering approach
2006
Signatur: YFD1877
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Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials
Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications
2005
Signatur: UIR2687
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Autor / AutorinNajm, Farid N
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