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Ultraschallmessungen an amorphen Au x Sn 1-x -Filmen bei tiefen Temperaturen

Chen, Jiewei

1992

Signatur: DQ1606

X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons

1990

Signatur: UIO1880

Zeitaufgelöste In-situ-RHEED-Messungen während der Laserablation von YBa 2 Cu 3 O 7-x, SrTiO 3 und (Y 2 O 3)Zro 2 und Charakterisierung der Schichten mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop, RBS und elektrischen Methoden

Karl, Helmut

1993

Signatur: D9950

Interaction of strong laser radiation with solids and nonlinear optical diagnostics of surfaces

Teubner-Texte zur Physik : 24 (Alle Bände)

1. Aufl, 1990

Signatur: UIO1872

Laserinterferometrische Wärmewellenanalyse zur lokalen Bestimmung der thermischen Eigenschaften dünner Schichten und Substrate

Tochtrop-Mayr, Matthias

1991

Signatur: D6093

Nanoscience : friction and rheology on the nanometer scale

Meyer, Ernst

Repr, 2002

Signatur: UIO2323

Near field optics : theory, instrumentation, and applications

A Wiley-Interscience publication

1996

Signatur: UGU2480

Rasterkraftmikroskopie an Schwerionen-bestrahlten Materialien : Spuruntersuchungen und Entwicklung eines UHV-Kraftmikroskops

Ackermann, Jörg

1994

Signatur: DQ1871

A new X-ray diffractometer for the online monitoring of epitaxial processes [Elektronische Ressource]

Kharchenko, Alexander

2003

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Volltext

Near field optics : 9 - 10 July 1995 San Diego, California

Proceedings / SPIE - The International Society for Optical Engineering : 2535 (Alle Bände)

Paesler, Michael[Herausgeber]

1995

Signatur: UAL950157

Photoemissionstudien an Übergangsmetallsiliziden auf Silizium(111)

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2506 (Alle Bände)

Rösen, Benedikt

1991

Signatur: MQ1523

A new X-ray diffractometer for the online monitoring of epitaxial processes

Kharchenko, Alexander

2003

Signatur: PQ221

Thin film analysis by X-ray scattering

2006

Signatur: UIY2577

Cubic III-nitride quantum structures grown by molecular beam epitaxy

Frey, Thomas

2000

Signatur: P1373, UIY2496

Near field microscopy and near field optics

Courjon, Daniel

2003

Signatur: UGU2634

NEXAFS spectroscopy

Springer series in surface sciences : 25 (Alle Bände)

Stöhr, Joachim

1. ed., 2. print, 2003

Signatur: UTF2039

Third generation hard X-ray synchrotron radiation sources : source properties, optics, and experimental techniques

A Wiley-Interscience publication

Mills, Dennis M[Herausgeber]

2002

Signatur: UIO2365

Surface infrared and Raman spectroscopy : methods and applications

Methods of surface characterization : 3 (Alle Bände)

Suëtaka, W

1995

Signatur: UIO2072

Electron microscopy of interfaces in metals and alloys

Electron microscopy in materials science series

1991

Signatur: UIO1953

Nonlinear surface electromagnetic phenomena

Modern problems in condensed matter sciences : 29 (Alle Bände)

Ponath, H.-E[Herausgeber]

1991

Signatur: UIY2098

Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

Wang, Zhong Lin

1996

Signatur: UIO2111

Materials - fabrication and patterning at the nanoscale : symposium held April 19 - 20, 1995, San Francisco, California, USA

Materials Research Society symposium proceedings : 380 (Alle Bände)

Cerrina, Franco[Herausgeber]

2. print, 1996

Signatur: UIY2404

Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy

Briggs, David[Herausgeber]

2003

Signatur: UTF2047

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