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Ramanspektroskopie von Adsorbaten auf Silber-Inselfilmen

Mrozek, Ingomar

1989

Signatur: D4326

A new apparatus for the in-situ X-ray characterization of thin layers

Niggemeier, Ulrich

[Mikrofiche-Ausg.], 1999

Signatur: UIO2242

Ultraschallmessungen an amorphen Au x Sn 1-x -Filmen bei tiefen Temperaturen

Chen, Jiewei

1992

Signatur: DQ1606

Strukturuntersuchungen von adsorbatinduzierten Rekonstruktionen der Ni(110)- und Cu 3 Au(110)-Oberfläche mit niederenergetischer Ionenstreuung und Rastertunnelmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 3083 (Alle Bände)

Voetz, Matthias

1995

Signatur: MQ5969

X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons

1990

Signatur: UIO1880

Hochauflösende Photoelektronen-Spektroskopie an Oberflächen : Linienformen, Verlustprozesse und Anwendungen

Höfer, Ulrich

1989

Signatur: D1018

Zeitaufgelöste In-situ-RHEED-Messungen während der Laserablation von YBa 2 Cu 3 O 7-x, SrTiO 3 und (Y 2 O 3)Zro 2 und Charakterisierung der Schichten mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop, RBS und elektrischen Methoden

Karl, Helmut

1993

Signatur: D9950

Interaction of strong laser radiation with solids and nonlinear optical diagnostics of surfaces

Teubner-Texte zur Physik : 24 (Alle Bände)

1. Aufl, 1990

Signatur: UIO1872

Laserinterferometrische Wärmewellenanalyse zur lokalen Bestimmung der thermischen Eigenschaften dünner Schichten und Substrate

Tochtrop-Mayr, Matthias

1991

Signatur: D6093

Oberflächen-Segregationsverhalten polykristalliner Chalkopyrit-Dünnschichten : Experimentelle Untersuchungen auf der Basis der Photoelektronenspektroskopie

Schmid, Dieter

1996

Signatur: D11025

Nanoscience : friction and rheology on the nanometer scale

Meyer, Ernst

Repr, 2002

Signatur: UIO2323

Untersuchung von Struktur und Dynamik der Pt(100)-Oberfläche mit hochauflösender Heliumstreuung

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2490 (Alle Bände)

Kuhnke, Klaus-Eberhard

1991

Signatur: MQ1517

Near field optics : theory, instrumentation, and applications

A Wiley-Interscience publication

1996

Signatur: UGU2480

Die Untersuchung der Morphologie einer wachsenden Pt(111)-Fläche mittels der Streuung thermischer He-Atome

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2526 (Alle Bände)

Kunkel, Ralf

1991

Signatur: MQ1554

Rasterkraftmikroskopie an Schwerionen-bestrahlten Materialien : Spuruntersuchungen und Entwicklung eines UHV-Kraftmikroskops

Ackermann, Jörg

1994

Signatur: DQ1871

A new X-ray diffractometer for the online monitoring of epitaxial processes [Elektronische Ressource]

Kharchenko, Alexander

2003

Link zum Volltext
Volltext

Near field optics : 9 - 10 July 1995 San Diego, California

Proceedings / SPIE - The International Society for Optical Engineering : 2535 (Alle Bände)

Paesler, Michael[Herausgeber]

1995

Signatur: UAL950157

Magnetische Charakterisierung von Schichtsystemen mit antiferromagnetischer Kopplung

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2471 (Alle Bände)

Wiechers, Rembert

1991

Signatur: MQ1515

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Kondensation und Grenzschichtbildung von Ag und Cu auf Si(111)

Tosch, Stephan

1989

Signatur: D1433

Photoemissionstudien an Übergangsmetallsiliziden auf Silizium(111)

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2506 (Alle Bände)

Rösen, Benedikt

1991

Signatur: MQ1523

Spinaufgelöste Photoemission an ultradünnen ferromagnetischen Filmen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2556 (Alle Bände)

Kachel, Torsten

1991

Signatur: DQ1530

Untersuchungen über Wachstum, Haftung, Härte und Elastizität dünner Goldschichten auf unterschiedlichen Substraten mit Rasterkraftmikroskop

Kracke, Berthold

1996

Signatur: D11295

Spinaufgelöste niederenergetische Elektronenspektroskopie an den (001)-Oberflächen von Fe, Ag, Au und Cu 3 Au

Tillmann, Diether

1991

Signatur: D4605

Surface infrared and Raman spectroscopy : methods and applications

Methods of surface characterization : 3 (Alle Bände)

Suëtaka, W

1995

Signatur: UIO2072

Thin film analysis by X-ray scattering

2006

Signatur: UIY2577

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