UB Paderborn / Katalog / Suche / im Katalog

26 – 50 von 420

Sortiert nach

Thin films : interdiffusion and reactions

Electrochemical Society Series, A Wiley-Interscience publication

Poate, John M[Herausgeber]

1978

Signatur: UIY1474

Monomolekulare und gebündelte Stufen an der Wachstumsfläche von GaAs-Flüssigphasenepitaxie-Schichten

Weishart, Hannes

1992

Signatur: D6524

Hochdruck-Quecksilberporosimetrie an reinen und beladenen Zeolithen

Richter, Wolfgang Frank

1992

Signatur: D6996

Physics of thin films : advances in research and development. 3

Physics of thin films (Alle Bände)

1966

Signatur: UIY1385-3

Lasermessungen zur Dynamik der Molekül-Oberflächenwechselwirkung

Roth, Christoph

1992

Signatur: DQ1723

Hochauflösende Photoelektronen-Spektroskopie an Oberflächen : Linienformen, Verlustprozesse und Anwendungen

Höfer, Ulrich

1989

Signatur: D1018

Polysilizium-Dünnfilmwiderstände für Halbleiterdrucksensoren

Schäfer, Horst

1990

Signatur: D5781

The chemical physics of solid surfaces and heterogeneous catalysis. Vol. 4. Fundamental studies of heterogeneous catalysis

The chemical physics of solid surfaces and heterogeneous catalysis (Alle Bände)

King, D. A[Herausgeber]

1982

Signatur: UIY1733-4

Electromigration and electronic device degradation

A Wiley-Interscience publication

Christou, Aris[Herausgeber]

1994

Signatur: YFC1173

Characterization of epitaxial semiconductor films

Methods and phenomena : 2 (Alle Bände)

Kressel, Henry[Herausgeber]

1976

Signatur: XWQ1225

Rubidiumfluorid auf Germanium : Untersuchung von Anfangswachstum, Grenzschicht und Mehrlagenfilmen mit Photoemission und Elektronenspektroskopie

Konrad, Burkhard

1988

Signatur: D1661

Die ersten Stadien des Schichtwachstums von Pt auf Pt(111) sowie Ag auf Pt(111) untersucht mittels der Streuung thermischer He-Atome

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2986 (Alle Bände)

Becker, Andreas Friedbert

1994

Signatur: MQ5368

Herstellung und Eigenschaften von Y 1 Ba 2 Cu 3 O 6.5+x -Filmen durch chemische Gasphasenabscheidung

Busch, Harald

1992

Signatur: D7219

Surface science : an introduction

Hudson, John B

1992

Signatur: UIY2137

Introduction to surface roughness and scattering

2. print, 1993

Signatur: MQ8046

Rastertunnelmikroskopie an hochindizierten und vizinalen Silizium-Einkristalloberflächen

Röttger, Bernd

1996

Signatur: D10808

Optics of thin films : (an optical multilayer theory)

Wiley series in optical and applied optics, A Wiley interscience publication

Knittl, Zdeněk

1976

Signatur: UIY1369

Aufbau einer UHV-Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2993 (Alle Bände)

Birkner, Alexander

1994

Signatur: MQ5414

Handbook of surfaces and interfaces. 1 1978

Handbook of surfaces and interfaces (Alle Bände)

Dobrzynski, Leonard[Herausgeber]

Signatur: UIY1466-1

Zeitaufgelöste In-situ-RHEED-Messungen während der Laserablation von YBa 2 Cu 3 O 7-x, SrTiO 3 und (Y 2 O 3)Zro 2 und Charakterisierung der Schichten mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop, RBS und elektrischen Methoden

Karl, Helmut

1993

Signatur: D9950

Reflection high energy electron diffraction studies of semiconductor interfaces during molecular beam epitaxy growth

Braun, Wolfgang

1996

Signatur: D10724

Interaction of strong laser radiation with solids and nonlinear optical diagnostics of surfaces

Teubner-Texte zur Physik : 24 (Alle Bände)

1. Aufl, 1990

Signatur: UIO1872

Ein UHV-System zur Präparation und Analyse ultradünner dielektrischer Schichten auf Silizium

Kubsky, Stefan

1999

Signatur: D12465

Bedampfungstechnik : Verfahren, Einrichtungen, Anwendungen

INFORMATIONSELEKTRONIK

2., unveraend. Aufl, 1976

Signatur: UIY1246(2)

Molekularstrahlepitaxie und Untersuchung piezoaktiver In x Ga 1-x As-GaAs-Heterostrukturen

Ilg, Matthias

1994

Signatur: D9434

26 – 50 von 420

Suche als RSS-Feed

Aktive Filter

SystemstelleUIQ

Suchergebnisse filtern

Filter anzeigen

Art des Mediums

Autor / Autorin

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsform

Monographie
(415)
Serie
(4)
Artikel
(1)

Schlagwort

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Erscheinungsjahr

n.n

Neu hinzugefügt

Sprache

Englisch
(173)
Deutsch
(117)
Französisch
(1)

Systemstelle

UIY
(420)
UIO
(36)
UIU
(20)
UQS
(14)
YFC
(14)
YGY
(12)
UAL
(9)
UGU
(9)
UQT
(7)
YFB
(7)
UFF
(6)
UQR
(5)
UQU
(5)
UIS
(4)
UIZ
(4)
URG
(4)
UHM
(3)
UIC
(3)
UJP
(3)
UKL
(3)

15 weitere anzeigen...

Weniger anzeigen...

Art des Inhalts

Menü

Weitere Dienste

Einstellungen

Thin films : interdiffusion and reactions

Monomolekulare und gebündelte Stufen an der Wachstumsfläche von GaAs-Flüssigphasenepitaxie-Schichten

Hochdruck-Quecksilberporosimetrie an reinen und beladenen Zeolithen

Physics of thin films : advances in research and development. 3

Lasermessungen zur Dynamik der Molekül-Oberflächenwechselwirkung

Hochauflösende Photoelektronen-Spektroskopie an Oberflächen : Linienformen, Verlustprozesse und Anwendungen

Polysilizium-Dünnfilmwiderstände für Halbleiterdrucksensoren

The chemical physics of solid surfaces and heterogeneous catalysis. Vol. 4. Fundamental studies of heterogeneous catalysis

Electromigration and electronic device degradation

Characterization of epitaxial semiconductor films

Rubidiumfluorid auf Germanium : Untersuchung von Anfangswachstum, Grenzschicht und Mehrlagenfilmen mit Photoemission und Elektronenspektroskopie

Die ersten Stadien des Schichtwachstums von Pt auf Pt(111) sowie Ag auf Pt(111) untersucht mittels der Streuung thermischer He-Atome

Herstellung und Eigenschaften von Y 1 Ba 2 Cu 3 O 6.5+x -Filmen durch chemische Gasphasenabscheidung

Surface science : an introduction

Introduction to surface roughness and scattering

Rastertunnelmikroskopie an hochindizierten und vizinalen Silizium-Einkristalloberflächen

Optics of thin films : (an optical multilayer theory)

Aufbau einer UHV-Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen

Handbook of surfaces and interfaces. 1 1978

Zeitaufgelöste In-situ-RHEED-Messungen während der Laserablation von YBa 2 Cu 3 O 7-x, SrTiO 3 und (Y 2 O 3)Zro 2 und Charakterisierung der Schichten mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop, RBS und elektrischen Methoden

Reflection high energy electron diffraction studies of semiconductor interfaces during molecular beam epitaxy growth

Interaction of strong laser radiation with solids and nonlinear optical diagnostics of surfaces

Ein UHV-System zur Präparation und Analyse ultradünner dielektrischer Schichten auf Silizium

Bedampfungstechnik : Verfahren, Einrichtungen, Anwendungen

Molekularstrahlepitaxie und Untersuchung piezoaktiver In x Ga 1-x As-GaAs-Heterostrukturen

Aktive Filter

Suchergebnisse filtern