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A designer's guide to built-in self-test

Frontiers in electronic testing : 19 (Alle Bände)

Stroud, Charles E

2002

Signatur: YCM1579

New methods of concurrent checking

Frontiers in electronic testing : 42 (Alle Bände)

Gössel, Michael

2008

Signatur: YCM1587

Wie sucht man Fehler in elektronischen Schaltungen? : Fehlersuche mit Methode

Elektronik

Benda, Dietmar

Sonderausg, 2007

Signatur: YCM1595

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits

Frontiers in electronic testing : 17 (Alle Bände)

2000

Signatur: YCM1561

Design for at-speed test, diagnosis and measurement

Frontiers in electronic testing

Nadeau-Dostie, Benoit[Herausgeber]

[Nachdr.], 2004

Signatur: YCM1553

Nachrichtenmesstechnik : Einführung in die Grundlagen

Hofmann, Walter

1. Aufl, 2000

Signatur: YCM1545

Sensoren und Meßelektronik : praktische Anwendungen: analoge und digitale Signalverarbeitung, elektronische Meßtechnik, PC-Meßtechnik ; mit 52 Tabellen

Bernstein, Herbert

1998

Signatur: WFC2351

Meßssysteme der Hochfrequenztechnik

Eltex

Schiek, Burkhard

1984

Signatur: YCM1422

Mikrowellenmesstechnik

Groll, Horst

1969

Signatur: YCM1082

Elektronische Messtechnik : Grundwissen

2., durchges. Aufl, 1975

Signatur: YCM1147(2)

Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen : mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen

Leitfäden und Monographien der Informatik

Wojtkowiak, Hans

1988

Signatur: YGQ2686

Digitale Meßwertverarbeitung : mit 37 Tabellen

Best, Roland E

1991

Signatur: YCB3908

High frequency measurements and noise in electronic circuits

Smith, Douglas C

1993

Signatur: YCM1511

Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten

Băjenescu, Titu I

1985

Signatur: YCM1383

Testability of electronic circuits

1. [Dr.], 1992

Signatur: YCM1391-EN

Automatische Testgenerierung für kombinatorische Schaltungen

Kaibel, Reinhard

1991

Signatur: D5745

Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors ; the Yokohama 21. Century Forum, Yokohama, Japan, September 17 - 22, 1989

Sumino, K[Herausgeber]

Signatur: XVI890468-...

Digital circuit testing : a guide to DFT and other techniques

Wang, Francis C

1. [Dr.], 1991

Signatur: YGQ3137

Zur Modellierung digitaler Schaltungen mit AND-OR-Graphen für die automatische Testmustergenerierung

Trischler, Erwin

1989

Signatur: D5503

Impedanzmessung im mm-Wellen-Bereich ohne Frequenzumsetzung

Neumeyer, Bernhard

1989

Signatur: D5308

Kurzfassungen zu den Vorträgen der Tagung "Qualität und Zuverlässigkeit von Systemen, Programmen und Geräten der Informationstechnik" : Tage der Wissenschaft und Technik an der Technischen Hochschule Wismar vom 05. bis 07. September 1989

Schriftenreihe der Technischen Hochschule Wismar : 2 (Alle Bände)

Schippel, Erhard[Herausgeber]

Als Ms. gedr, 1989

Signatur: WAI890392

Selbsttest monolithischer analog-digitaler Schaltungen

Ohletz, Michael J

1989

Signatur: D4902

Tutorial: test generation for VLSI chips

1988

Signatur: MQ1252

Radio frequency & microwave power measurement

IEE Electrical measurement series : 7 (Alle Bände)

Fantom, Alan E

1990

Signatur: YCM1480

Manual of electronic servicing tests and measurements

Genn, Robert C

2. ed, 1990

Signatur: YCM1472(2)

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