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Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze

Grützner, Matthias

1988

Signatur: D1711

Gerätemessungen : Durchführung von Messungen an Geräten der Radio-, Fernseh- und Phonotechnik sowie der Elektronik

Angewandte Elektronik

Richter, Heinz

1963

Signatur: YCM1024

Design for at-speed test, diagnosis and measurement

Frontiers in electronic testing

Nadeau-Dostie, Benoit[Herausgeber]

[Nachdr.], 2004

Signatur: YCM1553

Meßssysteme der Hochfrequenztechnik

Eltex

Schiek, Burkhard

1984

Signatur: YCM1422

Messung elektronischer Parameter an Halbleiterbauelementen : ausgewählte Beiträge ; mit 6 Tabellen

Schneider, Helmut Günther[Herausgeber]

1. Aufl, 1976

Signatur: YCM1202

Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors ; the Yokohama 21. Century Forum, Yokohama, Japan, September 17 - 22, 1989

Sumino, K[Herausgeber]

Signatur: XVI890468-...

Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten

Băjenescu, Titu I

1985

Signatur: YCM1383

Kurzfassungen zu den Vorträgen der Tagung "Qualität und Zuverlässigkeit von Systemen, Programmen und Geräten der Informationstechnik" : Tage der Wissenschaft und Technik an der Technischen Hochschule Wismar vom 05. bis 07. September 1989

Schriftenreihe der Technischen Hochschule Wismar : 2 (Alle Bände)

Schippel, Erhard[Herausgeber]

Als Ms. gedr, 1989

Signatur: WAI890392

Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen

Kortstock, Michael

1989

Signatur: D1723

Troubleshooting analog circuits

EDN series for design engineers

Pease, Robert A

1991

Signatur: YCM1498

Manual of electronic servicing tests and measurements

Genn, Robert C

2. ed, 1990

Signatur: YCM1472(2)

Methoden zur Kalibrierung von heterodynen und homodynen Netzwerkanalysatoren

Eul, Hermann-Josef

1990

Signatur: D2975

Microelectronic reliability

The Artech House materials science library

Signatur: YCM1406

Selbsttest monolithischer analog-digitaler Schaltungen

Ohletz, Michael J

1989

Signatur: D4902

Eine Entwicklungsumgebung zur Automatisierung von Verfahren zur Generierung von Testhilfen in digitalen integrierten Schaltungen

Frei, Matthias

1990

Signatur: D2995

Digitale Meßwertverarbeitung : mit 37 Tabellen

Best, Roland E

1991

Signatur: YCB3908

Integrierter Test anwendungsspezifischer Schaltkreise

Anwendungen der Datenverarbeitung

Budde, Wolfgang O

1989

Signatur: YCM1430

Testability of electronic circuits

1. [Dr.], 1992

Signatur: YCM1391-EN

Selbsttest digitaler Schaltungen

Grundlagen der Schaltungstechnik

1990

Signatur: YCM1464

A designer's guide to built-in self-test

Frontiers in electronic testing : 19 (Alle Bände)

Stroud, Charles E

2002

Signatur: YCM1579

New methods of concurrent checking

Frontiers in electronic testing : 42 (Alle Bände)

Gössel, Michael

2008

Signatur: YCM1587

Nachrichtenmesstechnik : Einführung in die Grundlagen

Hofmann, Walter

1. Aufl, 2000

Signatur: YCM1545

Wie sucht man Fehler in elektronischen Schaltungen? : Fehlersuche mit Methode

Elektronik

Benda, Dietmar

Sonderausg, 2007

Signatur: YCM1595

Fault diagnosis of digital circuits

Jarmolik, Vjačeslav N

1990

Signatur: YGQ2945

Radio frequency & microwave power measurement

IEE Electrical measurement series : 7 (Alle Bände)

Fantom, Alan E

1990

Signatur: YCM1480

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