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Semiconductor Nanowires : materials, synthesis, characterization and applications
Woodhead Publishing series in electronic and optical materials : 77 (Alle Bände)
2015
Signatur: UFF1841
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Control technologies for emerging micro and nanoscale systems
Lecture notes in control and information sciences : 413 (Alle Bände)
2011
Signatur: UFF1825
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In-situ electron microscopy at high resolution
2008
Signatur: UFF1817
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Handbook of nitride semiconductors and devices
2008-
Signatur: YEM2256
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Handbook of nitride semiconductors and devices. 1. Materials, properties, physics and growth
Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)
2008
Signatur: YEM2256-1
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Handbook of nitride semiconductors and devices. 2. Electronic and optical processes in nitrides
Handbook of nitride semiconductors and devices (Alle Bände)
2008
Signatur: YEM2256-2
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Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop : ein Handbuch für die Praxis
2005
Signatur: UFF1833
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Bulk crystal growth of electronic, optical & optoelectronic materials
Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications
2005
Signatur: UIR2687
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Organic electroluminescence
Optical engineering : 94 (Alle Bände)
2005
Signatur: UIQ5151
Open Access
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Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen [Elektronische Ressource]
2004
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Ultramikrotomie in der Materialforschung
2004
Signatur: UFF1809
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Rastersondenmikroskopie an flüssigkristallinen und heterogenen organischen Strukturen
2004
Signatur: P1778
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Semiconductor nanocrystals : from basic principles to applications
Nanostructure science and technology
2003
Signatur: UIU4537
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Quantitative high resolution fluorescence microscopy using evanescent wave excitation
1. Aufl, 1999
Signatur: UFF1794
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Procedures in scanning probe microscopies
Repr, 1999
Signatur: MQ11448
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Optical methods of engineering analysis
1. paperback ed, 1998
Signatur: UGR1730
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Sehen, Verstehen, Gestalten : Mikrostrukturen im Elektronenmikroskop
1998
Signatur: MQ11141, MQ11140
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Scanning probe microscopy : analytical methods
Nanoscience and technology
1998
Signatur: UFF1786
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Konzeption und Herstellung von Mikrosonden zur elektrischen und thermischen Charakterisierung mikroelektrischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie
1997
Signatur: D11950
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Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie
1997
Signatur: DQ2166
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Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Adsorption und Reaktion von O 2, N 2 O, NO 2 und NO auf Si(100) und das Wachstum von Pt auf reinem und oxidiertem Si(100)
1997
Signatur: D11270
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Scanning tunneling microscopy. 3. Theory of STM and related scanning probe methods
Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 29 (Alle Bände)
2. ed, 1996
Signatur: UFF1582(2)-3
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Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis
1996
Signatur: UFF1760
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Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation
1995
Signatur: D10805
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Scanning tunneling microscopy. 2. Further applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister
Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)
2. ed, 1995
Signatur: UFF1582(2)-2
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